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Capítulo 4 - Transístor de Efeito de Campo -FET, Notas de estudo de Informática

EFEITO DE CAMPO

Tipologia: Notas de estudo

2014

Compartilhado em 11/11/2014

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bg1
Cap. 4 - MOS
1
O princípio de funcionamento do transístor de efeito de campo (TEC ou FET, na designação
anglo-saxónica) assenta no controlo de uma carga móvel associada a uma camada muito fina
de semicondutor, designada por canal, à custa de um campo eléctrico perpendicular à camada
e que é criado por um terminal designado por porta (gate, na designação anglo-saxónica). Nas
extremidades do canal existem dois contactos metálicos associados a dois terminais
designados por dreno (drain) e fonte (source). É hoje o componente mais comercializado,
tendo atingido densidades de 9
10 componentes por pastilha. Graças à miniaturização é
possível obter canais com dimensões da ordem do centésimo do mícron, facto que conduz à
manifestação de efeitos quânticos interessantes que estão fora do âmbito desta disciplina. Os
transístores de efeito de campo (Field Effect Transistor) são de dois tipos: os de junção
(JFET) e os de Metal-Isolante-Semicondutor (MISFET). Estes últimos utilizam normalmente
o dióxido de silício como isolante e o silício como semicondutor, designando-se então por
MOSFET. O dispositivo mais próximo do JFET é o MESFET que utiliza materiais compostos
da família do GaAs. Devido à sua rapidez têm larga aplicação na área das micro-ondas.
Na lista de problemas propostos e resolvidos (MOS1 a MOS5) é sempre calculado o ponto de
funcionamento em repouso (PFR) do transístor, que define o seu funcionamento em regime
estacionário e condiciona o seu comportamento em regime variável de pequenos sinais. No
problema MOS1 estuda-se a influência dos parâmetros estruturais do transístor na definição
da tensão gate-fonte de limiar lim.
GS
U Nos restantes problemas os parâmetros característicos
do MOS são dados directamente (MOS2, MOS3) ou extraídos a partir de curvas (MOS4,
MOS5). A influência da escolha dos diversos dispositivos (resistências, fontes) ou dos
parâmetros do transístor
()
lim,
GS
UA nas diversas zonas de funcionamento do transístor
(zona de tríodo, saturação, corte ou disrupção) é analisada nos problemas MOS2, MOS3 e
MOS4. É estudada a influência da variação do sinal de entrada nas tensões e/ou correntes em
Gate
Fonte Dreno
pf3
pf4
pf5
pf8
pf9
pfa
pfd
pfe
pff
pf12
pf13

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Baixe Capítulo 4 - Transístor de Efeito de Campo -FET e outras Notas de estudo em PDF para Informática, somente na Docsity!

O princípio de funcionamento do transístor de efeito de campo (TEC ou FET, na designação

anglo-saxónica) assenta no controlo de uma carga móvel associada a uma camada muito fina

de semicondutor, designada por canal, à custa de um campo eléctrico perpendicular à camada

e que é criado por um terminal designado por porta (gate, na designação anglo-saxónica). Nas

extremidades do canal existem dois contactos metálicos associados a dois terminais

designados por dreno (drain) e fonte (source). É hoje o componente mais comercializado,

tendo atingido densidades de

9 10 componentes por pastilha. Graças à miniaturização é

possível obter canais com dimensões da ordem do centésimo do mícron, facto que conduz à

manifestação de efeitos quânticos interessantes que estão fora do âmbito desta disciplina. Os

transístores de efeito de campo (Field Effect Transistor) são de dois tipos: os de junção

(JFET) e os de Metal-Isolante-Semicondutor (MISFET). Estes últimos utilizam normalmente

o dióxido de silício como isolante e o silício como semicondutor, designando-se então por

MOSFET. O dispositivo mais próximo do JFET é o MESFET que utiliza materiais compostos

da família do GaAs. Devido à sua rapidez têm larga aplicação na área das micro-ondas.

Na lista de problemas propostos e resolvidos ( MOS1 a MOS5 ) é sempre calculado o ponto de

funcionamento em repouso (PFR) do transístor, que define o seu funcionamento em regime

estacionário e condiciona o seu comportamento em regime variável de pequenos sinais. No

problema MOS1 estuda-se a influência dos parâmetros estruturais do transístor na definição

da tensão gate-fonte de limiar U (^) GSlim. Nos restantes problemas os parâmetros característicos

do MOS são dados directamente ( MOS2, MOS3 ) ou extraídos a partir de curvas ( MOS4,

MOS5 ). A influência da escolha dos diversos dispositivos (resistências, fontes) ou dos

parâmetros do transístor ( UGS lim ,A ) nas diversas zonas de funcionamento do transístor

(zona de tríodo, saturação, corte ou disrupção) é analisada nos problemas MOS2 , MOS3 e

MOS4. É estudada a influência da variação do sinal de entrada nas tensões e/ou correntes em

Gate Fonte Dreno

vários pontos do circuito. Nuns casos ( Problema MOS3 ), a análise é feita para grandes sinais

em regime quase-estacionário. Nos problemas MOS2 , MOS4 e MOS5 a perturbação é

interpretada como uma variação corresponde a um sinal alternado sinusoidal de baixa

amplitude colocado à entrada ( ui ( )t ), e com efeitos importantes definidos, por exemplo à

saída, através do ganho do circuito amplificador ( uo ( )t = Av × ui ( )t ).

Resolução

A tensão porta-fonte de limiar é dada pela expressão:

lim 0 0

inv

ss B GS ms S

Q Q
U V
C C

= − − − + φ (1)

onde:

2 ln 0,5 V inv

A S T i

N

u n

φ = = (2)

Na situação de carga espacial nula no semicondutor junto ao óxido tem-se:

0

ss GS ms

Q
U V
C

ou, atendendo a que U (^) GS = UGB:

0

2 V

ss ms

Q
V
C

De salientar que esta situação corresponde à existência de bandas planas no semicondutor

desde o óxido até ao terminal de substrato (B).

max max 0 0

; ; 0,3 V

Sinv (^) ox B B A A

Q

Q qN d d C qN a^ C

− −

εφ (^) ε = − = = ⇒ = (4)

Substituindo (2), (3) e (4) em (1) obtém-se:

lim

U GS = −1, 2 V

Trata-se assim de um MOSFET de canal n de depleção(ou empobrecimento).

a) U (^) GS = VG= 0

Hipótese: FET na saturação

  • 2 0 2

D Ds (^) at n Dsat

b I I C U L

= = μ (5)

Da análise do circuito:

5 = I D RL + UDS (6)

De (5) e (6) obtém-se ID = 0,1 mA e U (^) DS= 4,9 V. Como lim

= − =1, 2 V

DSsat GS GS

U U U

tem-se que > DS DSsat U U , o que confirma a hipótese de partida. O ponto de funcionamento

em repouso P é dado por:

= 0,1 mA ; = 4,9 V ; =0 V DP DSP GSP

I U U.

b) U (^) GS = VG=3 V

Hipótese: transístor na saturação

Da equação (5) tem-se =1,3 mA D I e da equação (6) =3,7 V DS U. Como < DS DSsat

U U ,

não se confirma a hipótese: o transístor encontra-se neste caso na zona de não saturação.

Desprezando a influência da carga fixa do substrato na corrente de dreno, tem-se:

0 2 lim 2

μ = ⎡^ − − ⎤ ⎣ ⎦

n D GS GS DS DS

b C I U U U U L

Das equações (6) e (7) obtêm-se 2 soluções: 1

=3,6 V

DS U e 2

=21, 4 V

DS

U. A 2ª

hipótese corresponderia a DS Dsat U > U , além de que fisicamente seria impossível já que

U (^) DS seria superior à tensão da bateria. O ponto de funcionamento em repouso Q é assim

dado por:

1, 2 mA ; 3,8 V ; 3 V DQ DSQ GSQ

I = U = U =

A figura mostra a representação gráfica das duas situações atrás estudadas.

Lugar geométrico dois pontos fronteira sat/tríodo

ID

Q

P

5

UDS (V)

UDS=3 V

UGS= 0 V

1

4 3 4

U U GS E UDS
R R R

ou seja,

4 4

GS DS GS

U R R U R R
U E FU G
R R

sendo F = ( R 3 + R 4 ) R 4 = 10 e G = E − FU 1 = − 10 ( V).

De (4) e (5) obtém-se:

( (^) lim)(^ )^ (^ )

2 I (^) D = A ⎡^ U (^) GS − UGS FUGS + G − FU (^) GS+G 2 ⎤ ⎣ ⎦

usando (2):

( (^) lim ) (^) lim (^ )

2 2 2 U 1 UGS AR 4 FUGS FUGS U (^) GS GU (^) GS FU (^) GS 2 FGUGS G 2 − = ⎡^ − − − − − ⎤ ⎣ ⎦

sendo:

( ) ( (^) lim ) ( (^) lim )

2 2 A 1 = F − F 2 AR 4 ; B 1 = AR 4 − FU (^) GS + G − FG + 1 e C 1 = − AR 4 GU (^) GS + G 2 −U 1

1 2

2 1 1 1 1

1

B 4
1, 0167 V ; 1, 745 V

GS GS GS

B A C
U U U
A

(^1 1 1 )

0,98 mA e 0,167 V com 3, 02 V GS D DS Dsat

U ⇒ I = U = U =

(^2 2 2 )

0, 25 mA e 7, 45 V com 3, 75 V GS D DS Dsat

U ⇒ I = U = U =

Como o transístor por hipótese se admitiu na zona de não saturação é escolhida a solução

  1. O ponto de funcionamento em repouso será:

U (^) GS = 1,017 V ; I (^) D = 0,98 mA e UDS=0,17 V

b) Consideremos a situação correspondente à fronteira saturação/não saturação.

( (^) lim)

2

Dsat GS GS

A
I = U −U (6)

1

4

sat

GS D

U U
I
R

3 4

sat sat

D D

E U
I
R R

lim

DSsat GS GS

U U U (9)

De (6), (7), (8) e (9) obtém-se:

1 lim 4 4 3 4

GS GS^ GS GS

U U E^ U^ U
U R
R R R
− −^ +

De (7)

(^1 4 1 4) lim

GS (^) Dsat DS (^) sat Dsat GS

U U R I U U R I U

ou seja:

(^3 4 1 4) lim 2 3 mA Dsat Dsat Dsat GS Dsat

E − R I − R I = U − R I − U ⇒ I =

De (6) e (7):

= = 0,816 V ⇒ = −1,18 V

sat sat

D DS GS

I
U U
A

De (10) obtém-se R 4 = 4,78 kΩ. Este é o valor mínimo de R 4 que garante que o transístor

se encontre na zona de saturação.

c) R 4 = 10 kΩ : o transístor está na zona de saturação.

( (^) lim)

2

Dsat GS GS

A
I = U −U (11)

DS Dsat

U = E − I R + R (12)

U 1 = UGS + R I 4 Dsat (13)

De (11) e (13) considerando:

lim lim

2 2 4 2 4 2 4 1

GS GS

A = AR B = − R AU + C = AR U −U

1 2

2 2 2 2 2

2

2, 68 V ou 1, 42 V 2

GS GS GS

B B A C
U U U
A

( (^) lim)

2 I (^) D = A ⎡^ U (^) GS − UGS U (^) DS −UDS 2 ⎤ ⎣ ⎦

E = I D R 3 + UDS (18)

De (17) e (18) obtêm-se as seguintes soluções:

1

0,14 V

DS U = e 2

7,97 V

DS U =. Como 4 V Dsat U = exclui-se a 2ª solução. O ponto de

funcionamento em repouso é:

I (^) D = 1,08 mA ; U (^) DS = 14 V ; UGS=2 V

Os parâmetros incrementais são:

g m = AUDS= 0, 28 mS gds = A U( Dsat −U DS) =8 mS

O circuito para componentes incrementais é, para os mesmos pressupostos assumidos na

alínea anterior:

R 1

R 3

R 2 u 1

uds

~ e

gmugs

D

S

G

u (^) gs

gds

u 1 = ugs (19)

uds = e − g um gs R 3 − gds uds R 3 = u 2 (20)

1 2 1 2

R R

E e u R

De (19), (20) e (21) obtém-se:

2 1 2 3 3 1 2

m 1 ds 0,

u R R g R g R u R

d) Se R 2 = ∞ verifica-se que:

U GS = E −R I 4 D

Atendendo a que:

U DS = E − ( R 3 +R 4 )ID

Sendo o MOSFET de canal n e de empobrecimento (^) ( ) lim

GS U < , o circuito anterior impõe

uma tensão dreno-fonte inferior à tensão dreno-fonte da entrada na saturação:

lim

DS GS GS GS DSsat

U U U U U

Portanto com R 2 = ∞ o transístor está sempre a funcionar na zona de não saturação.

1max 1,06 k

DS D D

U U
R
I

Admitindo que U 1 varia de uma forma suficientemente lenta para que se possa tomar a sua

evolução como uma sequência de estados estacionários, verifica-se pelas características

estacionárias ( , )

D D DS GS I = I U U que se U 1 variar de 0 a U1max os pontos de funcionamento

em repouso correspondentes se situam sempre na zona de não saturação.

ID

UGS

UDS

U U1max

T/

T

t

( ) lim

2 2 D GS GS DS DS

I = A ⎡^ U − U U −U ⎤

( ) lim

2 2 1 1 2

D D DS D GS GS DS DS DS DS DS

U = I R + U = AR ⎡^ U − U U − U ⎤+ U = C U +C U

com (^) ( ) (^1) lim C = ARD U (^) GS − UGS + 1 = 4, 72e (^) ( )

C 2 = − ARD 2 = −0,53 V. Obtém-se:

1 12 2 1 1

2

DS

C C C U U

U t C

Escolhe-se o sinal negativo de modo a ter-se ( ) DS Dsat U t ≤ U. Trata-se de uma parábola

com a concavidade virada para cima uma vez que

2

2 1

d U (^) DS t

dU

UDS

UDSat

t T/4 T/2 T

3,

1,

t = T 2 ⇒ U 1 = U1max 2 e U 2 = 1, 23 V <UDsat 2

b) O circuito para componentes incrementais é o seguinte:

G

D

S

i

RD

gds u 0

gmu (^) gs=

ugs=

u (^) gs= 0

( )

1 u 0 RD gds i

− = +

1 u ds gds i

0

ds

ds D

u

u g R

Sendo (^) ( ) lim

gds = A UGS −U (^) GS −U (^) DS = 2, 27 mS no ponto de funcionamento em repouso

correspondente a U 1 = U1max 2. Substituindo na expressão da relação de tensões obtém-se

o valor 0,29.

11 V

G GSO DO S

E = U + I R = (2)

Deste modo:

lim

3 V

DSO Dsat GSO GS U = U = U − U = , e portanto:

( ) 21 V

D Dsat Dsat D S

E = U + I R + R =

b) Ao aumentar o valor de ED o transístor entra na zona de saturação. Como as variáveis das

equações (1) e (2) não se alteram, o novo ponto de funcionamento em repouso (ponto Q)

não altera as suas coordenadas referentes à corrente de dreno e à tensão porta-fonte:

( (^) lim)

2 9 mA 2

DQ GSQ GS DO

A

I = U − U = = I e 2 V GSQ G s DQ GSO

U = E − R I = =U

A alteração de D E apenas provoca a alteração da tensão dreno-fonte, que é dada por:

lim

7 V 3 V

DSQ D DO D S DSO GSO GS

U = E − I R + R = > U = U − U =

confirmando que o ponto se encontra agora na saturação. Graficamente pode verificar-se

que a recta de carga mantém o mesmo declive, sofrendo no entanto uma translação para a

direita (ver figura)

UDS

I D

Q

O

( )

E D RD +RS

ED (^) ( RD +RS)

DSO ED E D

U

DSQ

U

U GS= 2 V

O circuito para componentes incrementais de baixa frequência quando o MOSFET está na

zona de saturação é o seguinte:

RG

G

ΔEG

~ ΔUGS

R S

ΔU DS

R D

D

S

ΔID

gmΔUGS

ΔE G = ΔU GS + RS ΔID

ΔI (^) D = gm ΔID

ΔU DS = − g m ΔI D ( RD +RS)

gm = A U ( GS Q − UGSlim )=6 mS

DS^ m^ S^ D

G m S

U g^ R^ R

E g R

De (4) obtém-se

2 A =2, 27 mA V.

b) Com o interruptor fechado DS GS GS GSlim U = U > U − U. Então o transístor encontra-se na

zona de saturação.

I 1 = ( ED − U DS ) RD=15 mA

( (^) lim)

2 18,16 mA 2

D Dsat GS GS

A
I = I = U − U =

I 2 = I (^) D− I 1 =3,16 mA

c) Com o interruptor S aberto (transístor na zona de não saturação):

Δ I (^) D = g (^) mΔ U (^) GS + gds ΔUDS

Δ U DS = − RD ΔID

Δ I (^) D + R gD ds Δ ID = g (^) m ΔEG

g (^) m = AU (^) DS= 6,81 mS ( ) lim

gds = A UGS − U (^) GS − UDS =2, 27 mS

2,1 mS 1

D m

G ds D

I g

E g R

Com o interruptor S fechado (transístor na zona de saturação):

GS G DS

U E U
RD = Δ I 1 = −ΔUDS

ΔI (^) D = g (^) m ΔU (^) GS = A U ( (^) GS − UGS (^) lim )ΔUGS

( (^) lim ) 9, 08 mS

D GS GS m G

I

A U U g E